一、簡介與原理
zeta電位儀是一種用于測量納米顆粒zeta電位的工具。它結(jié)合了電泳和光散射技術(shù),通過測量納米顆粒在電場作用下的運(yùn)動(dòng)行為和光散射特性,來獲得其電位和粒度信息。
工作原理如下:
電泳技術(shù):當(dāng)在樣品上加載電場后,帶電顆粒會(huì)產(chǎn)生電泳運(yùn)動(dòng),向相反電荷的電極移動(dòng)。顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度與zeta電位的高低和正負(fù)有關(guān)。
光散射技術(shù):當(dāng)一束激光照射在納米顆粒上時(shí),光的散射角度與顆粒的大小有關(guān)。通過測量散射角度,可以得到顆粒的粒度分布情況。
zeta電位是描述顆粒表面電荷性質(zhì)的重要參數(shù),對于理解顆粒的穩(wěn)定性、分散性以及顆粒間的相互作用具有重要意義。通過這兩種技術(shù)的結(jié)合,能夠提供納米顆粒的Zeta電位和粒度分布等關(guān)鍵信息。
二、發(fā)展與應(yīng)用
zeta電位儀作為一種重要的納米科技研究工具,自推出以來,在多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。華東師范大學(xué)與上海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司合作在1994年推出了新一代Zeta電位儀的改進(jìn)型,該儀器具有更多的優(yōu)異性能,可廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。
1.納米科技
在納米科技領(lǐng)域,可用于研究和開發(fā)新型納米材料,如納米顆粒、納米線、納米管等。通過測量納米顆粒的尺寸和表面電荷,可以評估其分散性、穩(wěn)定性和應(yīng)用潛力。這對于開發(fā)高性能的納米材料和推動(dòng)納米科技的進(jìn)步具有重要意義。
2.生物醫(yī)學(xué)
在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,可用于研究藥物載體、生物大分子和細(xì)胞表面的電荷性質(zhì)。這些研究有助于理解生物分子之間的相互作用、藥物在體內(nèi)的傳輸和釋放機(jī)制,以及細(xì)胞膜的通透性等。這對于藥物的研發(fā)和治療手段的優(yōu)化具有重要意義。
3.膠體與界面科學(xué)
膠體與界面科學(xué)是研究膠體顆粒和界面現(xiàn)象的科學(xué)。可用于測量膠體顆粒的尺寸和表面電荷,從而揭示膠體體系的穩(wěn)定性和界面現(xiàn)象的本質(zhì)。這對于理解和優(yōu)化膠體體系的行為具有重要意義。
三、工作原理詳解
zeta電位儀的工作原理基于電泳和光散射技術(shù),以下是對這兩種技術(shù)的詳細(xì)解釋。
1.電泳技術(shù)
電泳技術(shù)是通過測量帶電顆粒在電場中的遷移速度來獲得其表面電荷性質(zhì)的方法。以下是電泳技術(shù)的工作原理:
帶電顆粒的電泳運(yùn)動(dòng):當(dāng)在樣品上加載電場后,帶電顆粒會(huì)產(chǎn)生電泳運(yùn)動(dòng),向相反電荷的電極移動(dòng)。顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度與Zeta電位的高低和正負(fù)有關(guān)。具體來說,Zeta電位越高的顆粒,其電泳運(yùn)動(dòng)速度越快;Zeta電位為負(fù)的顆粒向正極移動(dòng),Zeta電位為正的顆粒向負(fù)極移動(dòng)。
電泳遷移率的測量:電泳遷移率是描述帶電顆粒在電場中遷移速度的物理量。通過測量顆粒的電泳遷移率,可以推算出顆粒的Zeta電位。電泳遷移率的測量一般采用激光多普勒電泳法。該方法通過測量散射光的多普勒頻移,來計(jì)算顆粒的電泳遷移率。
2.光散射技術(shù)
光散射技術(shù)是通過測量激光在納米顆粒中的散射角度和強(qiáng)度來獲得其粒度分布的方法。以下是光散射技術(shù)的工作原理:
散射光的測量:當(dāng)一束激光照射在納米顆粒上時(shí),顆粒會(huì)將光線散射。散射光的強(qiáng)度和顆粒的大小成正比。通過測量散射光的強(qiáng)度,可以推算出顆粒的大小。
粒度分布的推算:根據(jù)米氏散射理論,散射光的強(qiáng)度和顆粒的粒徑分布存在一定的關(guān)系。通過測量不同角度的散射光強(qiáng)度,可以反推出顆粒的粒度分布。粒度分布的測量一般采用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)。該方法通過測量散射光強(qiáng)度隨時(shí)間的變化,來推算顆粒的粒度分布。
四、測量步驟與參數(shù)
zeta電位儀的測量步驟和參數(shù)對于獲得準(zhǔn)確的結(jié)果至關(guān)重要。以下是測量步驟和主要參數(shù):
1.測量步驟
樣品準(zhǔn)備:將待測樣品分散在適當(dāng)?shù)娜軇┲?,并確保樣品的濃度和分散性符合要求。
儀器設(shè)置:根據(jù)樣品的特性,設(shè)置儀器的測量參數(shù),如激光波長、電場強(qiáng)度、測量時(shí)間等。
測量過程:將樣品注入樣品池,啟動(dòng)儀器進(jìn)行測量。儀器會(huì)自動(dòng)記錄散射光和電泳遷移率的數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)分析:將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī),利用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析,得到顆粒的Zeta電位和粒度分布結(jié)果。
2.主要參數(shù)
功耗:zeta電位儀功耗一般小于150W,確保儀器的穩(wěn)定運(yùn)行。
電源電壓:電源電壓一般為220V50Hz,適用于大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室的電源環(huán)境。
適用環(huán)境:儀器應(yīng)放置在防震平臺上,以確保測量的準(zhǔn)確性。
適用溫度范圍:儀器的適用溫度范圍通常為室溫到35℃,讀取精度為0.1℃。
測數(shù)準(zhǔn)確度:系統(tǒng)的誤差在5%以內(nèi),確保測量結(jié)果的可靠性。
粒度范圍:適用于0.5-20μm的分散體系,能夠測量大多數(shù)納米顆粒的粒度分布。
pH范圍:pH范圍一般在下2.0-12.0之間,亦可在1.6-13.0范圍內(nèi)使用,步長為0.1,滿足不同樣品的測量需求。
分辨率:采用高分辨率的光學(xué)系統(tǒng),能夠清晰地觀察到微小的顆粒。
五、應(yīng)用實(shí)例與優(yōu)勢
1.應(yīng)用實(shí)例
化妝品行業(yè):可用于測量化妝品中納米顆粒的zeta電位和粒度分布,以評估其穩(wěn)定性和分散性。這對于優(yōu)化化妝品的配方和提高其性能具有重要意義。
選礦行業(yè):在選礦過程中,可用于測量礦石顆粒的表面電荷性質(zhì),以優(yōu)化浮選和沉降過程。通過調(diào)整礦石顆粒的表面電荷,可以提高礦石的回收率和品位。
生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域:可用于研究藥物載體、生物大分子和細(xì)胞表面的電荷性質(zhì)。例如,通過測量藥物載體的zeta電位,可以評估其在體內(nèi)的穩(wěn)定性和傳輸效率。此外,還可用于研究細(xì)胞膜的通透性和生物分子之間的相互作用。
環(huán)境保護(hù):在環(huán)境保護(hù)領(lǐng)域,zeta電位儀可用于測量水體中膠體顆粒的zeta電位和粒度分布,以評估水體的污染程度和穩(wěn)定性。通過監(jiān)測膠體顆粒的zeta電位變化,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)水體中的潛在污染問題。
2.優(yōu)勢
高精度和高靈敏度:zeta電位儀采用高穩(wěn)定性的激光器和靈敏的檢測器,能夠準(zhǔn)確測量納米顆粒的zeta電位和粒度分布。其測量精度和靈敏度遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)方法,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供了可靠的數(shù)據(jù)支持。
廣泛的應(yīng)用范圍:適用于多種行業(yè)和領(lǐng)域,如納米科技、生物醫(yī)學(xué)、膠體與界面科學(xué)等。通過測量不同樣品的zeta電位和粒度分布,可以深入了解樣品的性質(zhì)和行為,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供重要的參考信息。
操作簡便:采用計(jì)算機(jī)控制,具有友好的用戶界面和自動(dòng)化的測量流程。用戶只需簡單設(shè)置測量參數(shù),即可自動(dòng)完成測量和數(shù)據(jù)分析過程。這大大降低了操作難度和時(shí)間成本,提高了工作效率。
環(huán)保和可持續(xù)發(fā)展:zeta電位儀注重環(huán)保和可持續(xù)發(fā)展,采用低能耗和綠色環(huán)保設(shè)計(jì)。通過優(yōu)化儀器結(jié)構(gòu)和降低廢棄物產(chǎn)生等措施,減少了對環(huán)境的影響。這符合當(dāng)前社會(huì)對環(huán)保和可持續(xù)發(fā)展的要求。